日置電機様のベアボード・パッケージ検査･実装基板検査･外観検査装置の販売・お見積もりをいたします。

カートを見る
日置電機様製品　
見積もり・販売・購入
トップページ

レコーダ・データロガー・遠隔・電流センサ

LCRメータ・抵抗計・超絶縁計・校正器

安全規格測定器・環境測定器

電力計・クランプ電力計・CTセンサ

DMM・テスタ・現場測定器・光・LANテスタ

基板検査装置・生産検査ライン向け・メータリレー

新ソリューション

　メーカー名、商品名、型式などで
　ウェブファクトリー内のページ検索が
　可能です。ご利用ください！
 
ご使用中の計測器を末永くご活用いただくために、下記サービスを行っております。修理・校正についてのご相談・お問い合せなど、どんなことでもお気軽にお問い合わせください。フリーダイヤル：0120-115-407
　校正サービス
  ご使用中の計測器の測定精度を長期間にわたって維持するために校正サービス（有料）を行っております。
お気軽にご相談ください。
　修理サービス
  計測器の修理もお任せください！
故障した計測器の型式と故障内容、不具合の状況をご連絡いただけくだけで迅速・的確に修理サービスを行います。
　仕様詳細情報
  各種計測器についてのより詳しい仕様書・関連情報にお答えします。どんな機器についてもお気軽にお問い合わせください。
　レンタルサービス
  製品の種類によってはレンタルサービスが可能なものもございます。レンタルご希望の方はお電話にてお問い合わせください。
 
ムサシインテック様製品　見積もり販売ページ
双興電機様製品　見積もり販売ページ
デンヨー様製品　見積もり販売ページ
 

日置電機　ベアボード・パッケージ検査･実装基板検査･外観検査装置･検査データ編集機

日置電機様のベアボード・パッケージ検査･実装基板検査･外観検査装置･検査データ編集機を特別格安価格でご購入いただけます。お見積もりが必要な商品の右端のチェックボックスにチェックを入れ、ページ下部のフォーム欄に必要事項をご記入の上送信してください。
各機器のオプション品についてのお見積もりは、備考欄にオプション品の型式番号をご記入くだされば一緒にお見積もりいたしますので、備考欄をご利用ください。

なお、商品写真をクリックすると、大きな画像がご覧いただけます。

ベアボード・パッケージ検査
商品写真 型式・商品名 標準価格（税抜） 特別価格
見積り
チェック↓
特徴
X-Yベアボードハイテスタ FA1275 X-Yベアボードハイテスタ FA1275 −
基板検査の省力化を強力にサポート! 隠れた欠陥も検出し高品質を確保
・自動搬送機能(標準装備
・レザー板厚補正(標準装備)
・汎用ローダ・アンローダ(オプション)
■基板検査の省力化を強力にサポート
●インライン機能　●水平搬送両面同時検査　●自動基板厚補正でコンタクトエラー排除
■隠れた欠陥も検出し高品質を確保
●4端子抵抗測定機能(微小抵抗を抜群の安定性で正確に測定)
●理論抵抗値と比較判定(基板の設計データから理論抵抗値を算出)
●200mA導通検査(高電流印加により、パターンの信頼性も確保)
●100GΩ/250V検査(比較的低い電圧で超絶縁検査が可能)
●絶縁マイクロショート検査
●ARC検出(特許出願中)
ベアボードハイテスタ 1231-11 ベアボードハイテスタ 1231-11 −
半導体パッケージ基板検査装置 (インデックステーブルタイプ)
●インデックステーブル方式
ワークの供給・位置補正・検査・搬出と同時処理を行うインデックス方式で待ちの無いマルチタスクを実現
●微細パターンへのプロービングが可能
高い繰り返しメカ精度でφ10μm内へのプロービングを可能にしました。
●高密度配線基板に対応
最大16,384ピン(従来比200%)で高密度配線基板の4端子検査が可能です。
●ユーザーライクなインターフェース
分かりやすいアイコンで直感的な操作をサポート
電子部品接続情報のグラフィック表示にも対応
●フリップチップはんだバンプ形状検査
Zygo社製との複合検査対応
X-Yベアボードハイテスタ 1281 X-Yベアボードハイテスタ 1281 −
高速両面検査で部品内蔵基板の検査を強力にサポート
●25GΩ(250V印加)までをカバーする高速絶縁検査(オプション)
●IVHやスルーホールの微小抵抗測定可能(4端子抵抗測定機能搭載)
●微細パターンの定格電流に近い200mAまでの高電流印加測定
●高精度プロービング(φ10μmパッドへのプロービング可)
●ワイドな検査エリア394×324 mm
●L, C, R, D測定標準対応
●MAX.100ステップ/秒の高速検査
ベアボードハイテスタ 1236-11 ベアボードハイテスタ 1236-11 −
超高速・部品内蔵基板検査装置 (インデックステーブルタイプ)
(両面アライメント)
検査基板サイズ　50×50〜260×160 mm
●1986年から培ったHIOKI実装基板検査技術をベアボード検査装置に搭載
●LSIの信頼性検査(I/O端子の漏れ電流、スタンバイ時の消費電流、 接続信頼性検査)
●複合部品の分離検査(ガード付きスキャナ使用時)
●MAX150mAの高電流導通検査
●内蔵部品自動保護付き絶縁検査
●パターン抵抗値を保証する4端子導通検査
ベアボードハイテスタ 1232-11 ベアボードハイテスタ 1232-11 −
部品内蔵基板検査対応! 高精度一括治具式検査装置
●抵抗保証が必要なビルドアップ基板
SIM-LINEから生成される理論抵抗値と高精度4端子抵抗測定がパターンの信頼性を保証します
●部品内蔵基板
HIOKIのインサーキットテスタで培われた計測ノウハウにより一歩先の内蔵部品検査を提供します
●CSP/CPUクォータパネルサイズ
340mm×330mmのワイドワークエリア
●フレキ基板
0.05mmの薄物基板に対応しています
テンションクランプによりフレキ基板も安定して固定できます
ベアボードハイテスタ 1230 ベアボードハイテスタ 1230 −
部品内蔵基板検査対応した計測ユニット
●部品内蔵基板の検査(実装基板検査機のノウハウを集約)
●ガーディング計測
●位相分割 (AC計測オプション)
●内蔵LSIの検査(接続信頼性検査・ピン間O/S検査・消費電流(スタンバイ電流)検査)
●直感的な操作サポートするアイコン
X-Y Cハイテスタ 1116-71 X-Y Cハイテスタ 1116-71(オフライン) −
X-Y Cハイテスタ 1116-72
(シングルロボット搬送)		 −
X-Y Cハイテスタ 1116-73
(オフライン 1945-21, 1945-22 付)		 −
X-Y Cハイテスタ 1116-74
(シングルロボット搬送 1945-21, 1945-22 付)		 −
X-Y Cハイテスタ 1116-75
(ダブルロボット搬送 1945-21, 1945-22 付)		 −
Max. 100回/秒! 容量測定方式による高速パターン検査
●導通検査に比べ検査ステップ数が大幅に少ない、静電容量測定方式による高速パターン検査
●検査スピードは最高100回/秒の超高速検査を実現
●不良時の微小な静電容量変化を確実に検出する、5aFの高分解能(1aF=10-6 pF)
●フィクスチャレスタイプでランニングコストが非常に安価
●プローブの打痕を最小限に抑える高速ソフトランディング機能
●一般ベアボードからフレキシブル基板・BGA・CSP・MCM等の高密度基板まで対応
●最小パッド径φ20μmで、ファインピッチの微細パッドにも確実にプロービング
●検査時のデッドスペースが無い、バキューム吸着方式を採用
●容量測定の他、抵抗、インダクタンス、ダイオード、電圧測定可能
X-Yボードハイテスタ 1270 X-Yボードハイテスタ 1270
(基板サイズ400×330mm)		 −
X-Yボードハイテスタ 1271
(基板サイズ610×510mm)		 −
優れたコストパフォーマンスの両面ベアボード検査
●フロント2アーム、バック2アームの計4アームで両面同時検査
● 端子低抵抗測定機能(オプション)により、クラック等の目に見えない欠陥まで検出
●導通検査方式と静電容量測定方式に加え、多彩な検査を実装
絶縁導通検査方式による短絡・断線検査
CR検査による短絡・断線検査(特許番号1736393)
静電容量測定方式による短絡・断線検査
IVH、スルーホールの抵抗検査(オプションの4端子低抵抗測定)
L, C, R, D測定により基板内蔵素子定数の測定
●高精度ながら検査スピードは最高0.012秒/ステップと高速
●不良時の微小な静電容量変化を確実に検出する、5aFの高分解能(1aF=10-6 pF)
●最小パッド径φ20μmで、ファインピッチの微細パッドにも確実にプロービング
●試験電圧250Vまで可能な絶縁耐圧試験を搭載可能(オプション)
●プローブの打痕を最小限に抑える、高速ソフトランディング機能と衝撃吸収プローブ
●検査の基準値吸収に必要な一連の動作を自動化、簡単に基本データの吸収が可能
このページのトップへ↑
見積もり送付先情報の入力へ↓
実装基板検査
商品写真 型式・商品名 標準価格（税抜） 特別価格
見積り
チェック↓
特徴
インサーキットハイテスタ 1220-50 インサーキットハイテスタ 1220-50
(卓上タイプ)		 −
インサーキットハイテスタ 1220-51
(テーブルタイプ)		 −
インサーキットハイテスタ 1220-52
(省スペースタイプ)		 −
実装基板の品質向上をサポート
●卓上型1BOXに機能を集約(1220-50)
●電解コンデンサ・IC逆挿入検出(オプション)
●検査効率を上げるマクロ検査
●多彩なシステム構成が可能
X-Yインサーキットハイテスタ 1240 X-Yインサーキットハイテスタ
1240-01		 −
X-Yインサーキットハイテスタ
1240-02		 −
X-Yインサーキットハイテスタ
1240-03		 −
ICリードの疑似接触 (プアコンタクト)検出
●Max. 0.025秒/ステップの高速検査 (1240-01,1240-03)
●ICの足浮き、疑似接触検出
●アクティブ検査対応(オプション)
●高精度プロービング
●ワイドな検査エリア510×460 mm (1240-01,1240-02)
●搬送系標準装備
●自動位置補正機能・簡易ビジュアルテスト機能付き
このページのトップへ↑
見積もり送付先情報の入力へ↓
検査データ編集
商品写真 型式・商品名 標準価格（税抜） 特別価格
見積り
チェック↓
特徴
FIT-LINE検査データ作成システム UA1780 FIT-LINE検査データ作成システム UA1780 −
データ作成時間1/10 ライン停止時間1/15
■ ガーバーデータとマウントデータから部品ライブラリ情報を参照しながらデータ作成!ご好評のFIT-LINEがWindow版で新登場!
・検査データ作成に、カメラティーチングは必要ありません
・部品下のパターンを目で追う必要もありません
・基板無しで高品質な検査データを簡単作成!
・FA1240用新データフォーマットに対応!

したがって、試作前の空き時間に余裕をもってプログラム作成。
ガーバーデータから逆生成されたネット情報、部品情報ライブラリを活用し、誰でも簡単に高品質な検査プログラムを短時間で作成できます。
新型フライングプローブテスタFA1240-50とのコンビネーション使用で最高のパフォーマンスをご提供します。
このページのトップへ↑
必須メールアドレス
必須確認のためもう一度
必須お名前
フリガナ
会社名
必須電話番号
（半角英数字でハイフン無し）
必須郵便番号
（半角英数字でハイフン無し）
必須ご住所
  1. 都道府県
  2. 市区町村
  3. 丁目番地
  4. 　建物名
必須納品場所
必須ご希望の連絡方法
備考
  
このページのトップへ